天光测控半导体特性测试仪ST-DC2000-X

                                    厂家直供天光测控ST-DC2000-X系列半导体特性测试仪

产品简介
1、测试范围： IGBT，MOSFET，二极管；三极管，可控硅，光耦，继电器等19类器件
2、用途：静态直流参数测试（击穿电压，漏电流，阈值电压，饱和电压，压降等等）
3、测量精度：1mV / 10pA
4、规格：2000V,50A/100A/250A/750A/1KA/1.25KA
5、优势：提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用
6、支持曲线扫描图示功能，029*8730*9001垂询

一、产品介绍
半导体特性测试仪是我公司研发生产的一款经典产品，扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。在PC窗口提示下输入被测器件的测试条点击即可完成测试任务。系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。

      曲线追踪仪（晶体管图示仪）功能则是利用高速ATE测试步骤逐点生成曲线，可快速而准确地生成精确的数据点。数据增量是可编程的线性或对数，典型的每步测试时间为6到20ms。一个两百条数据点曲线通常只需几秒钟就能完成。使用该系列跟踪仪更容易获取诸如 Transistor hFE vs. IC, Transistor VCESAT vs. IB and MOSFET RDSvs. VGS 等曲线数据。此外， 针对多条曲线，设备可以根据每条曲线的数据运行并将所获数据自动发送到一个单独的 Excel 工作表。系统能够更快，更简洁的创建曲线（单击，双击，选择输入菜单，单击）。就是这么简单。

二、产品应用
应用领域
**院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途——
1)测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
2)失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
3)选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4)来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5)量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）

三、产品特点
1)测试范围广（通测19大类，27分类半导体器件，覆盖市面上常见的所有分立器件）
2)升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围
3)采用脉冲测试法，脉冲宽度为美**规定的300us
4)被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
5)真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）
6)系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障
7)二极管极性自动判别功能，*人工操作
8)IV 曲线追踪扫描及显示 / 局部放大
9)程序保护较大电流/电压,以防损坏
10)具有品种繁多的IV曲线
11)可编程的数据点对应
12)增加线性或对数
13)可编程延迟时间可减少器件发热
14)保存和重新导入入口程序
15)保存和导入之前捕获图象
16)曲线图以及测试数据自动保存为EXCEL和TXT文本格式；
17)半导体特性测试仪支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A